回收膜厚仪|膜厚测试仪

半导体美国博曼（BOWMAN）X射线荧光膜厚测试仪   采用了磁感应法和涡流测厚法，可无损地测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性涂层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、等) 及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。涂镀层测厚仪具有测量误差小、可靠性高、稳定性好、操作简便等特点，是控制和保证产品质量必不可少的检测仪器，广泛地应用在pcb厂、电镀厂、电子厂、等检测领域。鲍曼分析:详述
　　?元素范围
　　铝13到铀92。
　　
　　?x射线激发能量
　　50 W(50 kv和1 ma)钨靶射线管
　　　　?探测器
硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率
　　　　?测量的分析层和元素
　　　5层(4层镀层+基材)和10种元素在每个镀层
　　成分分析的同时多达25元素
　　　　?过滤器/准直器
     4个初级滤波器
　　 4个电动准直器（0.1 0.2 0.3 1.5mm）
　　　　?聚焦
　　多固定聚焦与激光系统
　　　　?数字脉冲处理
　　　　4096 多通道数字分析器与自动信号处理，
　　包括X射线时间修正和防X射线积累　　
　　?电脑
　英特尔酷睿i5 3470处理器(3.2 ghz),8 gb DDR3内存,微软Windows 7
　　　　专业64位等效
　　?镜头
　　　　1/4 " cmos - 1280 x720 VGA分辨率
　　
　　?电源
　　　150 w、100 ~ 240伏,频率范围47赫兹到63赫兹　　
　　?工作环境　　　　　
　　50°F(10°C)到104°F(40°C)小于98% RH,无冷凝水
　　
　　?重量
　　32公斤
　　　　?内部尺寸
　　　高:140毫米(5.5“),宽:310毫米(12),深:210毫米(8.3”)
　　　　?外形尺寸
　

  　高:450毫米(18英寸),宽:450毫米(18),深:600毫米(24)     深圳金霖以最优的服务．为您提供最佳的解决方案 让客户满意，为客户创造最大的价值是我们始终追求的目标。

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